三坐标测量技术专业术语中英文对照（三）
内切圆	Maximum Inscribed Circle
坐标测量机尺寸测量的允许示值误差	Maximum Permissible Error Of Indication Of A CMM For Size Measurement
允许固定多探针探测系统形状误差	Maximum Permissible Fixed Multiple-Stylus Probing System Form Error
允许固定多探针探测系统位置误差	Maximum Permissible Fixed Multiple-Stylus Probing System Location Error
允许固定多探针探测系统尺寸误差	Maximum Permissible Fixed Multiple-Stylus Probing System Size Error
允许探测误差	Maximum Permissible Probing Error
允许万向探测系统形状误差	Maximum Permissible Articulated Probing System Form Error
允许万向探测系统位置误差	Maximum Permissible Articulated Probing System Location Error
允许万向探测系统尺寸误差	Maximum Permissible Articulated Probing System Size Error
允许轴向四轴误差	Maximum Permissible Axial Four Axis Error
允许径向四轴误差	Maximum Permissible Radial Four Axis Error
允许扫描探测误差	Maximum Permissible Scanning Probing Error
允许切向四轴误差	Maximum Permissible Tangential Four Axis Error
允许扫描检测时间	Maximum Permissible Time For Scanning Test
平均失效时间	Mean Time Between Failure (MTBF)
平均修复时间	Mean Time For Repair (MTFR)
测量空间	Measuring Volume
千分尺	Micrometer
微型应变片	Micro-Strain Gage
外接圆	Minimum Circumscribed Circle
机动测量机	Motorized CMM
机（自）动测头座	Motorized Head
移动桥式坐标测量机	Moving Bridge CMM
水平悬臂移动式坐标测量机	Moving Ram Horizontal-Arm CMM
移动工作台悬臂式坐标测量机	Moving Table Cantilever CMM
移动工作台水平悬臂坐标测量机	Moving Table Horizontal-Arm CMM
多探针	Multiple Styli
多探针	Multiple Stylus
多测头系统	Multi-Probe System
多级减速器	Multi-Stage Speed Reducer
（美国）国家标准及技术研究院	National Institute Of Standard And Technology(NIST)
非直角坐标系	Non-Cartesian System
非接触式探测系统	Non-Contacting Probing System
不均办温度场	Non-Uniform Temperatures
非预定路径扫描	Not Pre-Defined Path Scanning
脱机编程	Off-Line Programming
光学测头	Optical Probe
光学探测系统	Optical Probing System
光栅尺	Optical Scale
方向	Orientation
要素参数化	Parameterization Of A Feature
零件坐标系	Part Coordinate System
零件工夹具	Part Handing