近年来光学测头发展非常迅速，是探测技术的一个重要发展方向。可以将目前在三坐标测量机上应用的光学测头分为如下五类：
    1）一维测头，如三角法测头、激光聚焦测头、光纤测头等；
    2）二维测头，主要是各种视像测头，如利用CCD摄像机测量平面轮廓的测头；
    3）二维加一维测头，是在二维测头基础上，再增加对焦功能，使它能实现三维测量；
    4）三维测头，如用莫尔条纹技术形成等高线进行条纹计数的测头、体视式测头；
    5）接触式测头，是首先利用测端拾取工件表面位置信息，然后用光学原理进行转换。
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